一、基本信息
姓 名:孙常鸿
性 别:男
籍 贯:上海
出生年月:1984年10月
毕业院校:中国科学院研究生院
学历学位:研究生/博士
技术职务:副研究员
导师类别:硕导
工作部门:中国科学院上海技术物理研究所 材器中心
联系电话:15000226976
电子邮箱:sunch@mail.sitp.ac.cn
二、工作简历
2012年9月至今,中国科学院上海技术物理研究所。
三、科研工作简介
主要从事碲镉汞红外探测器芯片工艺、大面阵与超大面阵红外探测器设计、制备及评价技术、软件工程等方面的研究工作。作为项目骨干成员,研制成功了碲镉汞硅基面阵红外焦平面探测器,实现了同规模探测器首次航天应用;作为探测器项目主管设计师,研制成功了目前国内单颗阵列规模最大的面阵红外焦平面探测器;针对超大面阵探测器开发了多种数据分析软件并投入实际应用。主持国家自然科学基金青年基金一项,上海技物所创新专项两项,目前担任多个型号项目的探测器主管设计师。获得上海市科技进步一等奖一项,发表学术论文十余篇,申请专利十余项。
四、主要获奖成果
上海市科技进步一等奖 (硅基碲镉汞红外焦平面成像器件技术,2017年)
五、代表性论文专利
1、ZnS thin films grown by atomic layer deposition on GaAs and HgCdTe substrate at very low temperature, Infrared Physics and Technology, 2017,85:280-286(第一作者)
2、硫化锌薄膜的原子层沉积生长及表征,红外,2017,38(1):1-6(第一作者)
3、Evaluation of flip-chip bonding electrical connectivity for ultra-large array infrared detector,Optics Express,2024,32(7): 10777-10785(通讯作者)
4、Systematic prediction method for flip-chip bonding connectivity of ultra-large array infrared detector,Optics Express,2024, 32(7): 10841-10850(通讯作者)
5、用于多级冷屏的光敏元响应率非均匀性校正方法及系统(发明专利),CN202311072891.7(第一发明人)
六、培养学生情况
截至2024年10月,在读博士生1人(二导),在读硕士生1人(二导)。
已毕业博士生1人(协助培养),已毕业硕士生0人。就业率:100%.
主要就业去向:国内研究所